Intel PowerVia背面供电测验成功
发布时间:2023-06-08 09:50:51 所属栏目:产品 来源:
导读:Intel已经公布了全新制造工艺路线图,包括Intel 7、4、3、20A、18A,其中20A、18A将引领进入埃米时代,并同时采用PowerVia背面供电、RibbonFET全环绕栅极两大全新技术。传统的正面供电技术,信号走线、供电走线都位于
Intel已经公布了全新制造工艺路线图,包括Intel 7、4、3、20A、18A,其中20A、18A将引领进入埃米时代,并同时采用PowerVia背面供电、RibbonFET全环绕栅极两大全新技术。 传统的正面供电技术,信号走线、供电走线都位于晶圆的正面,需要共享甚至争夺每一个金属层的资源,必须竭力扩大金属层引脚间距,进而增加成本和复杂度。 为了加速研发,Intel选择了PowerVia、RibbonFET两项技术分开研发的方式,率先实现推进的就是美国的PowerVia。 Intel通过测试证实,PowerVia技术确实能显著提高芯片的使用效率,大部分区域的标准单元利用率都超过了90%,同时晶体管体积大大缩小,单元密度大大增加,因此能显著降低成本。晶体管尺寸的减小意味着功耗的降低,这对于电子设备来说尤为重要。 (编辑:银川站长网) 【声明】本站内容均来自网络,其相关言论仅代表作者个人观点,不代表本站立场。若无意侵犯到您的权利,请及时与联系站长删除相关内容! |
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